WAT 测试简介WAT是Wafer出Fab厂前的最后一道测试工序。WAT测试通常都是利用晶圆切割道上专门设计的测试结构完成的(图1)。通过这些测试结构的组合和测试结果的分析,可以监控晶圆制造过程和工序偏差。图1 晶圆切割道上的测试结构WAT 测试系统如图所示,主要由测试机机柜(Cabinet),测试头(Test head)和探针台(Prober)组成.测试机机柜主要包括各种测试仪表及PC控制系统,
SiC 功率器件迅速凯时kb88官方注册账号功率半导体是电子装置电能转换与电路控制的核心,本质上,是通过利用半导体的单向导电性实现电源开关和凯时kb88官方注册账号转换的功能,无论是水电、核电、火电还是风电, 甚至各种电池提供的化学电能,大部分均无法直接使用,需由功率半导体器件进行功率变换以后才能供设备使用。功率半导体的具体用途是变 频、变相、变压、逆变、整流、增幅、开关等,相关产品具有节能的作用,被广泛应 用于凯时kb88官方注册账号、通信、消费电子和工