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光网络测试
光通信网络作为信息通信的凯时kb88官方注册账号,对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速凯时kb88官方注册账号起重要的承载支撑作用,凯时kb88官方注册账号光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量,包括采样示波器,误码仪,波长计,光谱仪,流量仪以及通用光测量仪表等,提供经济高效的完整解决方案。
光电混合ATE是一个高度集成的光模块软硬件测试平台。硬件平台集成光模块测试的各类仪表,软件平台封装了各测试子功能模块,用户可以根据实际的测试需求选择最优的硬件配置,配合可二次开发的软件子模块,极大的降低了开发成本,提高测试系统的稳定性,加快新产品开发,是光模块测试行业的一次革新,推动光模块测试向高效率、高自动化、高集成化的方向凯时kb88官方注册账号!
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电性能测试
高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身,广泛应用于各类分立元器件,光伏,新能源,电池等行业的高精度测试测量,凯时kb88官方注册账号提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块,充分满足各种不同测试场景的应用。
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光芯片测试
激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法,通过对COC或者裸die的测试,提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的激光器早期失效。凯时kb88官方注册账号提供从裸die到COC,从高温到低温-40℃的完整解决方案。凯时kb88官方注册账号的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。
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功率芯片测试
半导体前道检测主要用于晶圆加工环节,目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷,半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内,目的是检查芯片的性能是否符合要求,属于电性能的检测。凯时kb88官方注册账号提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案,打破了国外企业的长期垄断,不断提升国产半导体设备的进口替代率。
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